- июль 11, 2018
Стрельников Д.В.
Email: Адрес электронной почты защищен от спам-ботов. Для просмотра адреса в вашем браузере должен быть включен Javascript.
Стрельников Данила Владимирович – студент магистратуры,
кафедра информационной измерительной и биомедицинской техники,
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования
Рязанский государственный радиотехнический университет, г. Рязань
Аннотация: в данной статье представлены основополагающие сведения о метрологии в области нанотехнологий, её экономические обоснования. Проблема поднятая в данной статье актуальна и на сегодняшний день, так как метрология и сертификация в наноиндустрии будет развиваться и совершенствоваться на протяжении многих десятилетий. Также были представлены основные и наиболее оптимально-достаточные методы и схемы испытаний, проводимых в целях сертификации различной продукции наноиндустрии. Представленные схемы и методы оптимизированы под все виды продукции наноиндустрии и несут минимальные искажения свойств и морфологии наночастиц в процессе проведения этих испытаний подтверждения соответствия типа.
Ключевые слова: метрология, наноиндустрия, испытания, нанометрология, сертификация, нанотехнологии.
METROLOGY OF NANOTECHNOLOGIES AND ORGANIZATION OF OPTIMAL SCHEMES FOR CONDUCTING COMPLEX TESTS FOR CERTIFICATION PURPOSES
Strelnikov D.V.
Strelnikov Danila Vladimirovich - Student Master's Degree
DEPARTMENT OF INFORMATION-MEASURING AND BIOMEDICAL ENGINEERING,
RYAZAN STATE RADIO ENGINEERING UNIVERSITY, RYAZAN
Abstract: this article presents the basic information about metrology in the field of nanotechnologies, its economic justifications. The problem raised in this article is actual and for today, since metrology and certification in the nanoindustry will develop and improve over many decades. Also, the basic and most optimal-sufficient methods and test schemes for the certification of different nanoindustry products were presented. The presented schemes and methods are optimized for all types of nanoindustry products and bear minimal distortion of the properties and morphology of nanoparticles in the course of carrying out these tests of type approval.
Keywords: metrology, nanoindustry, tests, nanometrology, certification, nanotechnology.
Список литературы / References
- «Стандартизация и метрология в нанотехнологиях», Окрепилов В.В., «Наука» Санкт-Петербург 2008 год.
- Блинд К. Экономический потенциал нанотехнологий и возможная роль стандартизации, Мир стандартов, 2007.
- Мальцев П.П. О терминологии в области микро- и наносистемной техники. Нано- и микросистемная техника.2005.
- Нанотехнологии в полупроводниковой электронике. / Отв. ред. А.Л. Асеев. Новосибирск: Нзд-во СО РАН .2004.
- Нанотехнологии в электронике. / Под ред. Ю.А. Чаплыгина. М.: Техносфера, 2005.
- Основы прикладной Нанотехнологии: Монография. /А.А. Абрамян, В.И. Балабанов, В.И. Беклемышев и др. М.: МАГИСТР-ПРЕСС, 2007.
- Румпель А.А. Нанотехнологии, свойства и применение анострукту- рированных материалов. // Успехи химии. 2007.
- Введение в нанотехнологию, Отчет НИИ промышленных технологий, Тайвань, 2006г.
- AIST Today, Internation Edition, #22, Autumn, 2006.
- Japanese Persrectives on Nanotechnology Standartisation, Japanese Industrial Standard Committee, November 9-22 2005.
- Business Plan ISO/TC 229 Nanotechnology, 23/04/2007.
- Облант Ж.М. Метрология: проблема наномасштаба, Мир стандартов, 2007.
- Тодуа П.А. «Метрология в нанотехнологии», Российские нанотехнологии, Обзоры, №1-2, 2007.
- Александров В.С., Собенин А.П. Работы ВНИИМ им. Д.И. Менделеева по метрологическому обеспечению нанотехнологий, Мир стандартов, стр. 6 – 10, №5(16), 2007.
- Постек М.Т. Метрология в нанометровом диапазоне, Вестник технического регулирования, 2007.
- Алфимов М.В. Итоги исследований и разработок проектов по приоритетному направлению «Индустрия наносистем и наноматериалов», Анализ результатов, подготовленных рабочей группой, июнь 2007.
Ссылка для цитирования данной статьи
Тип лицензии на данную статью – CC BY 4.0. Это значит, что Вы можете свободно цитировать данную статью на любом носителе и в любом формате при указании авторства. | ||
Стрельников Д.В. МЕТРОЛОГИЯ НАНОТЕХНОЛОГИЙ И ОРГАНИЗАЦИЯ ОПТИМАЛЬНЫХ СХЕМ ПРОВЕДЕНИЯ КОМПЛЕКСНЫХ ИСПЫТАНИЙ В ЦЕЛЯХ СЕРТИФИКАЦИИ // Наука, техника и образование № 7 (48), 2017. - С.{см. журнал}. |